應(yīng)力集中檢測(cè)儀 金屬磁記憶檢測(cè)儀 TC-TSC-2M-8 

、記錄和處理設(shè)備與結(jié)構(gòu)的應(yīng)力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。
　　 能用于按專門的檢測(cè)方法來評(píng)估設(shè)備的應(yīng)力變形狀況，并測(cè)定應(yīng)力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測(cè)量被檢測(cè)對(duì)象表面磁場(chǎng)Hp的分布。磁場(chǎng)強(qiáng)度使用A/m （安培/米）為單位，長(zhǎng)度計(jì)數(shù)器換算出長(zhǎng)度值，以mm為單位。

    
　　該系列儀器從方法上確立了磁場(chǎng)Hp分布同殘余應(yīng)力之間的關(guān)系。本儀器連同開發(fā)出來的于不同工業(yè)部門的檢測(cè)方法，對(duì)在運(yùn)行中設(shè)備的診斷領(lǐng)域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是，找出結(jié)構(gòu)的薄弱部位，其形式是金屬的磁記憶。檢測(cè)方法符合聯(lián)邦采礦技術(shù)監(jiān)督局的規(guī)定。本儀器已被推薦進(jìn)入聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)

功能外，同時(shí)擁有以下更*結(jié)構(gòu)和功能特點(diǎn)：

　　多達(dá)8個(gè)測(cè)量通道；
　　使用配備新型雙分量傳感器，多個(gè)鐵磁探測(cè)式轉(zhuǎn)換器放置成雙分量，用來同時(shí)檢測(cè)磁場(chǎng)的法向分量（Нру）和切向分量（Нрх）；

    應(yīng)力集中檢測(cè)儀 金屬磁記憶檢測(cè)儀
　　數(shù)字電路、16位微處理器、1M內(nèi)存；
　　32MB存儲(chǔ)空間，用于寫入10-15天期間檢測(cè)結(jié)果而無須將信息轉(zhuǎn)入電腦；
　　分辨率為320X240點(diǎn)陣的大屏幕液晶顯示；
　　操作簡(jiǎn)化，使用14鍵鍵盤；
　　軟件直接在儀器上自動(dòng)處理結(jié)果；
　　探頭可以測(cè)量場(chǎng)強(qiáng)值和移動(dòng)長(zhǎng)度值，速度Z大可達(dá)0.5米/秒；
　　不要求對(duì)被檢測(cè)對(duì)象進(jìn)行專門的磁化，因?yàn)樗昧怂鼈冞\(yùn)行中形成的殘余磁性；
　　不要求對(duì)被檢測(cè)表面作任何準(zhǔn)備；
　　在檢測(cè)過程中能確定事先不知道的金屬的應(yīng)力集中和缺陷的部位；
　　儀器能把數(shù)據(jù)記錄到存儲(chǔ)器，并可把數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)錄入計(jì)算機(jī)中；
　　配套提供分析軟件MM-System，可在計(jì)算機(jī)上對(duì)數(shù)據(jù)作深入的處理。

技術(shù)參數(shù)：

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式電阻率測(cè)試儀/便攜式電阻率檢測(cè)儀 產(chǎn)品型號(hào)：M-2

數(shù)字式電阻率測(cè)試儀/便攜式電阻率檢測(cè)儀型號(hào)：M-2

一·概述 
M-2型數(shù)字式電阻率測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多種用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量片狀，塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測(cè)試夾具，還可以對(duì)金屬導(dǎo)體的低，中值電阻進(jìn)行測(cè)量。 

儀器由主機(jī)，測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果用數(shù)字表頭直接顯示。主機(jī)主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準(zhǔn)確，游移率較小，壽命長(zhǎng)。 

儀器于半導(dǎo)體材料廠，半導(dǎo)體器件廠，科研單位，高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合. 

本儀器工作條件為： 
溫度：  
相對(duì)濕度： 60% ~ 70% 
工作室內(nèi)應(yīng)無強(qiáng)電磁場(chǎng)干擾，不與高頻設(shè)備共用電源 

二· 技術(shù)參數(shù) 
1. 測(cè)量范圍： 

電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長(zhǎng)（或高）度：≤400mm 


3. 測(cè)量方位： 
軸向，徑向均可 

4. 數(shù)字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
Z大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點(diǎn)自動(dòng)顯示 

5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進(jìn)可調(diào)，系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探針測(cè)試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機(jī)械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源：  
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機(jī)： 170mm (長(zhǎng)) X 130mm (寬) X50mm(高)

產(chǎn)品名稱：可塑性試驗(yàn)機(jī)  產(chǎn)品型號(hào)：KSD-49

可塑性試驗(yàn)機(jī) 型號(hào)：KSD-49

用途：于測(cè)定生膠、素?zé)捘z、混合膠的可塑性。 
主要技術(shù)參數(shù)： 
兩平行板間試樣承受力：49±0.05N 
控制溫度：70±1℃ 
百分表測(cè)程：0-30mm，精度0.01mm 
電熱功率：220V±10%、700W、50Hz